對於必須通過國際標準ESD測試的系統產品開發,在變更系統主體結構(包括機構設計與線路基板設計)最少的狀況下,利用靜電放電保護元件使系統在ESD測試環境下,變化線路的ESD能量路徑來解決系統ESD測試問題,是相當快速、有效解決ESD測試問題的方法。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 活化反應磁控濺射沈積技術新發展 IEDM 2024前瞻:鐵電記憶體技術發展與半導體趨勢解析 魁半導體開發出水分不易附著於樹脂等材料表面之「超撥水」技術 EDP推出1吋單晶鑽石晶圓,邁向鑽石元件實用化 被動元件低碳永續進行式:從材料選擇到製程創新 熱門閱讀 玻璃基板上TGV的金屬化製程 玻璃成孔技術發展現況 半導體用光酸材料技術 玻璃通孔(TGV)之電鍍銅金屬化處理及其微結構改質 半導體用抗反射層材料 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 正越企業有限公司 山衛科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司