本文主要是展現過去一年工研院材化所微結構與特性分析研究室TEM團隊在次奈米級電子能量損失光譜分析技術之開發成果。在建立次奈米級電子能量損失光譜分析技術方面：本文以工研院電光所MIM多層膜為主要研究載具，藉由超薄 TEM樣品製備技術建立與能量漂移問題、試片漂移問題的克服，建立次奈米級電子能量損失光譜分析技術。次奈米級電子能量損失光譜分析技術對超薄薄膜、顯示器材料與儲能元件之次奈米尺度二維元素分布分析、成分分析將扮演相當重要之角色。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 全訊息三維電子斷層掃描顯像技術在奈米元件之應用 全訊息三維電子斷層掃描顯像技術在奈米元件之應用 TEM三維斷層掃描顯像技術在高分子奈米複合材料之應用 聚焦離子束斷層掃描分析技術介紹 剖析材料三維結構之利器－材料微結構三維斷層掃描顯像技術 熱門閱讀 Micro LED量產技術、材料與市場展望 AI系統節能減碳的推手—GaN功率元件(上) 數據驅動熱塑性彈性體數位設計 量子點墨水材料技術 從ISPSD 2024看功率元件領域發展趨勢(上) 相關廠商 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司