本文主要是展現過去一年工研院材化所微結構與特性分析研究室TEM團隊在次奈米級電子能量損失光譜分析技術之開發成果。在建立次奈米級電子能量損失光譜分析技術方面:本文以工研院電光所MIM多層膜為主要研究載具,藉由超薄 TEM樣品製備技術建立與能量漂移問題、試片漂移問題的克服,建立次奈米級電子能量損失光譜分析技術。次奈米級電子能量損失光譜分析技術對超薄薄膜、顯示器材料與儲能元件之次奈米尺度二維元素分布分析、成分分析將扮演相當重要之角色。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 全訊息三維電子斷層掃描顯像技術在奈米元件之應用 全訊息三維電子斷層掃描顯像技術在奈米元件之應用 TEM三維斷層掃描顯像技術在高分子奈米複合材料之應用 聚焦離子束斷層掃描分析技術介紹 剖析材料三維結構之利器-材料微結構三維斷層掃描顯像技術 熱門閱讀 鋼鐵產業低碳製程技術發展趨勢 Ga2O3功率元件於電動車應用的發展(上) 高安全鋰電池材料與技術 固態鋰離子電池技術 聚焦二氧化碳再利用,推動脫化石資源依賴 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 友德國際股份有限公司 喬越實業股份有限公司 方全有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 銀品科技股份有限公司