掃描探針顯微鏡具有原子與奈米級之分析能力，其操作容易且簡便，操作環境可以在大氣、真空、液相等條件下進行分析。掃描穿隧顯微鏡是利用探針與樣品間電子穿隧效應來得影像，樣品必須為導體，而原子力顯微鏡則利用探針和樣品間原子作用力的關係，得知樣品表面的幾何形狀，樣品可為導體或非導體。目前掃描探針顯微鏡又發展出許多分析功能，可進行樣品之電性、磁性、奈米微影加工及活性生物分子性質分析等，其功能已經遠遠超過以往顯微鏡技術，因此掃描探針顯微技術已經是新世代科學中一種不可缺少之重要分析儀器。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 FE-SEM/CL/EBSD 分析技術簡介 場發射穿透式電子顯微鏡簡介 奈米科技區域服務網絡──檢測技術建置 四維掃描穿透影像系統(4D-STEM)於高階元件應力之檢測分析技術 熱門閱讀 從分子設計到原子級控制，半導體前段製程材料的挑戰與機會 先進封裝技術與異質整合發展趨勢分析：以TSV、CoWoS與FOPLP為例 「三高一快」的高能量快速充電鋰電池技術 由VLSI 2025 窺看半導體與AI運算技術的結合(上) IC載板用增層材料技術開發趨勢 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 廣融貿易有限公司 正越企業有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司