場發射穿透式電子顯微鏡簡介

 

刊登日期:2003/9/5
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材料發展進入奈米世界,場發射穿透式電子顯微鏡成為奈米材料分析之利器,原子級高解析度,配合上奈米微區X光能量分散光譜儀、電子能量損失譜儀,可對材料微區做成份、鍵結鑑定,另加裝掃瞄系統,可為掃瞄穿透式電子顯微鏡,使其功能更臻完備。
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