掃描探針顯微鏡(Scanning Probes Microscopy; SPM)為微區量測中之有力工具，自從1982年IBM科學家Binnig 和Rohrer 首先發明穿隧電流顯微鏡(Scanning Tunneling Microscopy; STM)來觀察原子影像，進而陸續發展出如AFM 、EFM 、SCM 、MFM 等各式觀察微區表面形貌與磁電化等特性之顯微技術後，此SPM技術的運用便如雨後春筍般的出現在各個研究領域上。在本文中，將針對原子力顯微鏡(AFM)與掃描電容顯微鏡(SCM)於生物軟物質(Soft Materials)與半導體領域的應用進行分析介紹。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 電性掃描探針顯微鏡 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(上) 奈米科技區域服務網絡──檢測技術建置 掃描探針顯微鏡之原理與應用簡介 掃描探針顯微技術研製矽奈米結構 熱門閱讀 「10分鐘內」超急速充電技術進展有成，全固態電池最受青睞 AI在化學反應優化的應用 AI在化工製程節能應用 AI於MBR系統中之品質控制與能源優化應用：以膜絲瑕疵檢測與廢水曝氣... 國際固態電路大會 ISSCC 2025：半導體發展趨勢與記憶體運算技術探討(... 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 正越企業有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司