工業技術研究院工業材料研究所於2004 年元月在奈米中心檢測實驗室所建置之JEOL JEM-2100F場發射穿透式電子顯微鏡是新一代最新型之200kV電鏡，為台灣第一部該型電鏡。此電鏡為目前日本電子株式會社所推出之最新型機種，裝配有多項高功能之先進檢測設備。本儀器包含原子解析率(0.19nm)之影像分析能力，配備有OXFORD 公司之X 射線能量散佈分析儀(EDS)、GATAN公司之電子能量損失譜儀(EELS)，並附有高角度環狀偵測器(High-Angle AnnularDetector)之掃瞄影像觀測元件(Scanning Image Observation Device)、數位掃瞄影像擷取系統(Digiscan Image quisition System)，屬於全方位之分析型高解析電子顯微鏡。本文將介紹這部精密電鏡之各項先進檢測功能，以及在工研院相關計畫之檢測成果。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料奈米檢測技術規畫與發展 操控奈米世界的眼睛及手指─奈米平台技術 奈米技術發展現況 OES技術於電漿製程監測之應用 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 熱門閱讀 抗冰—2025電動車時代不可忽視的問題 彩色太陽能電池：美學與再生能源融為一體(上) 大氣電漿與所生成自由基及其對生物組織與材料表面的影響(上) 表面增強拉曼光譜(SERS)於生醫及環境檢測之應用與挑戰 從日本下世代半導體情報通訊2050藍圖看台日國際學研合作 相關廠商 金屬3D列印服務平台 名揚翻譯有限公司 捷南企業股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 東海青科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 友德國際股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 台灣鑽石工業股份有限公司 科邁斯科技股份有限公司 方全有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 華錦光電科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 銀品科技股份有限公司