電性掃描探針顯微鏡（包括掃描電容顯微鏡與掃描電流顯微鏡）為分析微小區域電性特性的重要工具之一，藉由導電探針直接於試片上進行掃描，可以獲得奈米區域的載子濃度分布、界面缺陷、鐵電材料極化現象、漏電流行為等相關訊息。本文介紹電性掃描探針顯微鏡的基本架構、原理，以及國家奈米元件實驗室目前的研究成果。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 奈米科技區域服務網絡──檢測技術建置 掃描探針顯微技術研製矽奈米結構 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(上) 掃描探針顯微鏡之原理與應用簡介 熱門閱讀 從專利分析看Micro-LED全球趨勢(上) 半絕緣碳化矽晶圓發展現況 從SID 2018觀察全球顯示器產業新興技術發展動向(下) 高頻通訊用半導體基板材料發展現況 「2018年台灣國際循環經濟展」現場報導二 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 名揚翻譯有限公司 華錦光電科技股份有限公司 高柏科技有限公司 銀品科技股份有限公司 友德國際股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 喬越實業有限公司 廣融貿易有限公司 台灣鑽石工業股份有限公司 科邁斯科技股份有限公司 方全有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司