電性掃描探針顯微鏡（包括掃描電容顯微鏡與掃描電流顯微鏡）為分析微小區域電性特性的重要工具之一，藉由導電探針直接於試片上進行掃描，可以獲得奈米區域的載子濃度分布、界面缺陷、鐵電材料極化現象、漏電流行為等相關訊息。本文介紹電性掃描探針顯微鏡的基本架構、原理，以及國家奈米元件實驗室目前的研究成果。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 奈米科技區域服務網絡──檢測技術建置 掃描探針顯微技術研製矽奈米結構 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(上) 掃描探針顯微鏡之原理與應用簡介 熱門閱讀 由應用市場看Micro LED發展趨勢 氫能趨勢分析與儲能應用新思維 固態電池最新發展 商用感測器發展現況及未來趨勢(上) 鋰電池材料研發近況 相關廠商 金屬3D列印服務平台 名揚翻譯有限公司 華錦光電科技股份有限公司 高柏科技有限公司 銀品科技股份有限公司 友德國際股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 喬越實業有限公司 廣融貿易有限公司 台灣鑽石工業股份有限公司 科邁斯科技股份有限公司 方全有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司