電性掃描探針顯微鏡（包括掃描電容顯微鏡與掃描電流顯微鏡）為分析微小區域電性特性的重要工具之一，藉由導電探針直接於試片上進行掃描，可以獲得奈米區域的載子濃度分布、界面缺陷、鐵電材料極化現象、漏電流行為等相關訊息。本文介紹電性掃描探針顯微鏡的基本架構、原理，以及國家奈米元件實驗室目前的研究成果。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 奈米科技區域服務網絡──檢測技術建置 掃描探針顯微技術研製矽奈米結構 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(上) 掃描探針顯微鏡之原理與應用簡介 熱門閱讀 NEPCON JAPAN 2019 日本東京特別報導系列一 NEPCON JAPAN 2019 日本東京特別報導系列三 NEPCON JAPAN 2019 日本東京特別報導系列二 從Finetech Japan 2018看OLED之進展 全球電動車市場發展動向與熱門議題 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 名揚翻譯有限公司 華錦光電科技股份有限公司 高柏科技有限公司 銀品科技股份有限公司 友德國際股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 喬越實業有限公司 廣融貿易有限公司 台灣鑽石工業股份有限公司 科邁斯科技股份有限公司 方全有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司