電性掃描探針顯微鏡(包括掃描電容顯微鏡與掃描電流顯微鏡)為分析微小區域電性特性的重要工具之一,藉由導電探針直接於試片上進行掃描,可以獲得奈米區域的載子濃度分布、界面缺陷、鐵電材料極化現象、漏電流行為等相關訊息。本文介紹電性掃描探針顯微鏡的基本架構、原理,以及國家奈米元件實驗室目前的研究成果。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 奈米科技區域服務網絡──檢測技術建置 掃描探針顯微技術研製矽奈米結構 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(上) 掃描探針顯微鏡之原理與應用簡介 熱門閱讀 下世代產業所需高功能性新材料—電動車用高分子材料 再生塑膠產業鏈發展現況及政策趨勢—廢塑膠回收材料 台灣優勢產業所需材料—半導體化學品 生質尼龍及關鍵化學單體的生產及應用 台灣石化產業未來轉型之策略方向 相關廠商 金屬3D列印服務平台 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 山衛科技股份有限公司 正越企業有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司