奈米材料檢測分析的技術很多，一般來說，各個分析方法均有其優缺點，所以有時常需兩種以上的分析方法互相驗證，以得到較明確的結論。但是無疑的，掃描探針顯微檢測能力是探索奈米結構的有利工具。掃描探針顯微檢測及加工技術已經被廣泛地應用在下世代的奈米元件與記錄媒體上，例如：奈米電晶體、單電子電晶體、奈米結構、高密度資料儲存媒體等。這些掃描探針顯微檢測及加工技術在奈米技術領域的未來應用潛力不可忽視。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(下) OES技術於電漿製程監測之應用 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(上) SPM 在高分子基材表面相關特性的量測 熱門閱讀 半導體用抗反射層材料 半導體用光酸材料技術 次世代EUV帶來半導體光阻開發挑戰，日化學企業加速展開新材料佈局 「10分鐘內」超急速充電技術進展有成，全固態電池最受青睞 半導體用高解析光阻劑 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 正越企業有限公司 山衛科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司