SPM 在高分子基材表面相關特性的量測

 

刊登日期:2004/8/5
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近年來,高科技發展迅速,高分子基材已廣泛應用在生活各層面上。由於技術層面提高,對於所運用的基材材料性質精準度之要求,亦隨之相對提高。所以,材料特性的檢測便顯得非常重要。奈米技術的應用,推動檢測儀器及方法技術的提高。其中,掃描探針顯微鏡(SPM)的發明,更是檢測技術的一大革命。本文介紹SPM應用在高分子基材表面相關特性的檢測分析能力,並舉例說明之。
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