隨著奈米科技快速地進步，奈米材料與各式奈米元件對高空間解析之微結構顯微技術之需求日益增強。瞭解奈米材料特性與奈米微結構與化學特性之間的關係，有助於奈米科技之發展。本文將介紹工研院材料與化工研究所於奈米中心檢測實驗室所建置之場發射穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM-2100F)，與雙粒子束聚焦式離子顯微切割儀(FEI NanoLab Nova 200)在奈米材料、相變化記憶體與顯示器元件檢測應用實例。本文所發展之先進DB-FIB/FE-TEM整合檢測技術在奈米材料、相變化記憶體與顯示器元件開發將扮演重要之角色。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 LCD反射式增亮膜(DBEF)之微結構分析 有機薄膜電晶體微結構分析技術開發 有機薄膜電晶體之載子移動率與微結構關係 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(下) 新世代電子顯微鏡試片製備技術在強介電陶瓷薄膜與高儲能材料之實務... 熱門閱讀 鋼鐵產業低碳製程技術發展趨勢 Ga2O3功率元件於電動車應用的發展(上) 高安全鋰電池材料與技術 聚焦二氧化碳再利用，推動脫化石資源依賴 固態鋰離子電池技術 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 友德國際股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 方全有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 銀品科技股份有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司