CPU 散熱鰭片之超音波檢測

 

刊登日期:2003/9/5
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隨著電腦工業和半導體製程的技術發展,中央處理器(CPU)的速度愈來愈快,由於中央處理器的電晶體密度增加,導致消耗功率愈來愈大,產生的熱量也越來越驚人,因此,如何降低中央處理器工作時的表面溫度,使電腦不致於因過熱而發生當機,有效維持電腦運作便成為極重要的問題。個人電腦的中央處理器由於高速運算而產生熱量,為避免熱量累積溫度過高而損壞中央處理器,通常都於其上加裝一散熱片(Heat Sink),並以一風扇強制空氣對流而增加其熱傳。一般會在鋁製的鰭片(Fins)底部加一薄銅片,因為銅的熱傳導係數比鋁高,所以可以更均勻的將能量傳送到鋁鰭片四周的外圍鰭片進行散熱,然而,銅片和鋁鰭片之界面(以錫膏接合)如果接合不良,將導致熱傳效果不佳,甚至兩者會有剝離脫落之虞,因此,需藉由超音波C式掃瞄(C-scan)檢測來確保接合界面之品質,此外,利用超音波來評估接合界面可回饋製程條件的設定,以提高產品之可靠度。
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