奈米科技是80 年代中才開始發展的新興科學與技術，它將引發本世紀的材料、生化、光電、能源等技術之革命，人類將從而獲得巨大的實際效益，也因此奈米等級的測量技術也受到高度的重視。掃描探針顯微鏡由於其原子級的測量解析度、簡易的操作方法，以及低廉的價格等優異特點，而被廣泛的應用在半導體、光電、材料與記錄媒體產業。本文就針對掃描探針顯微鏡之各種檢測原理加以說明，其中包含：掃描穿隧電流顯微術、原子力顯微術、近場光學顯微術等。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 掃描探針微影術在奈米科技上之應用 場發射掃描式電子顯微鏡分析技術應用簡介 FE-SEM/CL/EBSD 分析技術簡介 奈米檢測能力之提升－先進檢測技術之建構 四維掃描穿透影像系統(4D-STEM)於高階元件應力之檢測分析技術 熱門閱讀 從 Battery Japan 2024看鋰電池與儲能產業發展 加氫站加氫協定之研究與未來發展趨勢 半導體產業廢硫酸純化再利用 歐盟新電池法生效推動循環經濟與永續發展 由ISSCC 2024看半導體發展趨勢與記憶體運算技術探討 相關廠商 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司