記錄媒體隨著資訊相關技術的進步，已朝向高密度、高儲存量發展，其中最顯著的莫過於光碟片，在光碟保持尺寸不變而密度提升的相容性考量下，光碟微結構漸趨微小化。穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope; TEM) 是具有高解析能力的分析儀器，對光碟工業結構微小化發展有相當大的助益，然而在光碟發展過程期間，因其材質特殊不易製成試片，而讓TEM 陷入孤掌難鳴的窘境。本文中，我們將引述一新世代TEM試片製備技術『T-tool Tripod Polisher』，再從實務上，針對藍光雷射HD-DVD 光碟提出TEM 試片製備上的難題及解決之道，從而利用TEM分析技術與對應的光碟試片資料中探求所欲知之訊息。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 有機薄膜電晶體微結構分析技術開發 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(下) 電子顯微鏡試片製備技術總論 前瞻觸媒材料開發所需之高階檢測技術(下) 前瞻觸媒材料開發所需之高階檢測技術(上) 熱門閱讀 國際固態電路大會 ISSCC 2025：半導體發展趨勢與記憶體運算技術探討(... IEDM 2024前瞻：鐵電記憶體技術發展與半導體趨勢解析 由2025 NEPCON Japan看低碳樹脂材料與印刷電路板製程技術與應用 日本綜合化學品製造商聚焦EUV，展望半導體材料領域 原子層沉積之應用與未來發展趨勢 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司