記錄媒體隨著資訊相關技術的進步，已朝向高密度、高儲存量發展，其中最顯著的莫過於光碟片，在光碟保持尺寸不變而密度提升的相容性考量下，光碟微結構漸趨微小化。穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope; TEM) 是具有高解析能力的分析儀器，對光碟工業結構微小化發展有相當大的助益，然而在光碟發展過程期間，因其材質特殊不易製成試片，而讓TEM 陷入孤掌難鳴的窘境。本文中，我們將引述一新世代TEM試片製備技術『T-tool Tripod Polisher』，再從實務上，針對藍光雷射HD-DVD 光碟提出TEM 試片製備上的難題及解決之道，從而利用TEM分析技術與對應的光碟試片資料中探求所欲知之訊息。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 有機薄膜電晶體微結構分析技術開發 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(下) 電子顯微鏡試片製備技術總論 前瞻觸媒材料開發所需之高階檢測技術(下) 前瞻觸媒材料開發所需之高階檢測技術(上) 熱門閱讀 Micro LED量產技術、材料與市場展望 AI系統節能減碳的推手—GaN功率元件(上) 數據驅動熱塑性彈性體數位設計 量子點墨水材料技術 從ALTA 2024看稀土及有價金屬資源萃取、應用及製程循環成果現況 相關廠商 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司