記錄媒體隨著資訊相關技術的進步，已朝向高密度、高儲存量發展，其中最顯著的莫過於光碟片，在光碟保持尺寸不變而密度提升的相容性考量下，光碟微結構漸趨微小化。穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope; TEM) 是具有高解析能力的分析儀器，對光碟工業結構微小化發展有相當大的助益，然而在光碟發展過程期間，因其材質特殊不易製成試片，而讓TEM 陷入孤掌難鳴的窘境。本文中，我們將引述一新世代TEM試片製備技術『T-tool Tripod Polisher』，再從實務上，針對藍光雷射HD-DVD 光碟提出TEM 試片製備上的難題及解決之道，從而利用TEM分析技術與對應的光碟試片資料中探求所欲知之訊息。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 有機薄膜電晶體微結構分析技術開發 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(下) 電子顯微鏡試片製備技術總論 前瞻觸媒材料開發所需之高階檢測技術(下) 前瞻觸媒材料開發所需之高階檢測技術(上) 熱門閱讀 玻璃基板上TGV的金屬化製程 含氟廢水回收再利用模式 加氫站技術與產業發展趨勢 突破鋰電池安全瓶頸：鋰枝晶之形成機制與解決方案 全球第一個碳-14鑽石電池問世，可望供電數千年 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司