記錄媒體隨著資訊相關技術的進步，已朝向高密度、高儲存量發展，其中最顯著的莫過於光碟片，在光碟保持尺寸不變而密度提升的相容性考量下，光碟微結構漸趨微小化。穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope; TEM) 是具有高解析能力的分析儀器，對光碟工業結構微小化發展有相當大的助益，然而在光碟發展過程期間，因其材質特殊不易製成試片，而讓TEM 陷入孤掌難鳴的窘境。本文中，我們將引述一新世代TEM試片製備技術『T-tool Tripod Polisher』，再從實務上，針對藍光雷射HD-DVD 光碟提出TEM 試片製備上的難題及解決之道，從而利用TEM分析技術與對應的光碟試片資料中探求所欲知之訊息。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 有機薄膜電晶體微結構分析技術開發 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況(下) 電子顯微鏡試片製備技術總論 以基磐技術引領產業低碳數位高值轉型 《工業材料雜誌》1月刊 四十周年特刊，集結14項領域技術共同展現材料... 熱門閱讀 功率半導體元件與散熱技術 寬能隙功率半導體封裝之結構設計與互連技術挑戰 功率半導體之高導熱陶瓷基板材料技術與應用發展 廢氫氟酸轉製冰晶石有價資源化技術 AI世代之次世代功率半導體產業發展 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司