材料Dk 和Df 之LCR Meter萃取流程

 

刊登日期:2011/9/5
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本研究旨在針對以LCR Meter 進行印刷電路板PCB 基材電性特性萃取,並將整個工程上的實驗整理成一個流程,俾使未來工程人員可依循此報告所指示的方法,重複施作到其他材料的特性萃取上。本文所指的基材電性特性以介電常數(Dielectric Constant ,在PCB 領域簡稱Dk)與損耗正切(Loss Tangent ,在PCB 領域簡稱Df)為主,本實驗所採用LCR Meter 的型號為HP 4284A ,此機台的操作頻率為20 Hz~1 MHz 。由於一般基板材料參數表(Datasheet)都會提供基本的1 MHz 下量測得到之Dk 、Df 值,故本文針對1 MHz 頻率點下電氣特性量測與萃取做詳盡的描述。整個量測的結果仍有些許的變異及誤差,若這些變異與誤差再做進一步分析,即可得到改善。


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