在LED晶片接面所產生的熱，對於整體LED的發光效率、波長偏移和壽命的影響非常大。但因透明膠體覆蓋於晶片表面，使得晶片接面溫度的量測變得很困難，本文將介紹利用電性方式量測LED熱阻，包括標準(Standard)量測、脈衝順向電壓、NIST 和暫態等方法。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 LED靜電破壞的耐受性及失效探討 白光LED光色穩定度檢測技術 LED光源壽命試驗方法與標準 LED光源壽命試驗方法與標準 LED熱阻量測技術(下) 熱門閱讀 三菱瓦斯化學積極展開光電融合材料應用提案 含氟廢水回收再利用模式 加氫站技術與產業發展趨勢 全球第一個碳-14鑽石電池問世，可望供電數千年 日本e-methanol產業概況與技術佈局 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司