在LED晶片接面所產生的熱,對於整體LED的發光效率、波長偏移和壽命的影響非常大。但因透明膠體覆蓋於晶片表面,使得晶片接面溫度的量測變得很困難,本文將介紹利用電性方式量測LED熱阻,包括標準(Standard)量測、脈衝順向電壓、NIST 和暫態等方法。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 LED靜電破壞的耐受性及失效探討 白光LED光色穩定度檢測技術 LED光源壽命試驗方法與標準 LED光源壽命試驗方法與標準 LED熱阻量測技術(下) 熱門閱讀 Micro LED量產技術、材料與市場展望 量子點墨水材料技術 廢氫氟酸資源高值化技術(上) 從ISPSD 2024看功率元件領域發展趨勢(上) 下世代產業所需高功能性新材料—電動車用高分子材料 相關廠商 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司