在LED晶片接面所產生的熱,對於整體LED的發光效率、波長偏移和壽命的影響非常大。但因透明膠體覆蓋於晶片表面,使得晶片接面溫度的量測變得很困難,本文將介紹利用電性方式量測LED熱阻,包括標準(Standard)量測、脈衝順向電壓、NIST 和暫態等方法。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 LED靜電破壞的耐受性及失效探討 白光LED光色穩定度檢測技術 LED光源壽命試驗方法與標準 LED光源壽命試驗方法與標準 LED熱阻量測技術(下) 熱門閱讀 從ICSRSM 2023看碳化矽材料領域發展(上) 鋼鐵產業低碳製程技術發展趨勢 Ga2O3功率元件於電動車應用的發展(上) 高安全鋰電池材料與技術 聚焦二氧化碳再利用,推動脫化石資源依賴 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 友德國際股份有限公司 喬越實業股份有限公司 方全有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 銀品科技股份有限公司