隨著奈米科技之進展,雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)在材料分析檢測上,逐漸佔有關鍵性之角色。藉由優異的E-beam 解析度及強大的I-beam 蝕刻能力,可將奈米尺度材料樣品現形而易於分析檢測。本文將著重以工研院材化所建置之DB-FIB,說明在CNT、奈米材料、鋰電池材料、掃描式探針及TEM試片製作,以及奈米結構製作等技術在光學檢測方面之應用與發展。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 奈米科技檢測分析的新利器-雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)技術的應用... 3DC推出石墨烯中孔洞海綿狀材料 JMTC推動導電奈米材料漿料化,可望提升電極設計自由度 透過添加奈米立方體,可望大幅縮短LiB充放電時間 橫濱大學開發Mn- Ti系電池材料,放電容量提高1.5倍 熱門閱讀 再生塑膠產業鏈發展現況及政策趨勢—廢塑膠回收材料 下世代產業所需高功能性新材料—電動車用高分子材料 台灣優勢產業所需材料—半導體化學品 台灣石化產業未來轉型之策略方向 CO2 氫化生產甲醇新世代觸媒與程序 相關廠商 金屬3D列印服務平台 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 山衛科技股份有限公司 正越企業有限公司 桂鼎科技股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司