隨著奈米科技之進展,雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)在材料分析檢測上,逐漸佔有關鍵性之角色。藉由優異的E-beam 解析度及強大的I-beam 蝕刻能力,可將奈米尺度材料樣品現形而易於分析檢測。本文將著重以工研院材化所建置之DB-FIB,說明在CNT、奈米材料、鋰電池材料、掃描式探針及TEM試片製作,以及奈米結構製作等技術在光學檢測方面之應用與發展。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 奈米科技檢測分析的新利器-雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)技術的應用... 3DC推出石墨烯中孔洞海綿狀材料 JMTC推動導電奈米材料漿料化,可望提升電極設計自由度 透過添加奈米立方體,可望大幅縮短LiB充放電時間 橫濱大學開發Mn- Ti系電池材料,放電容量提高1.5倍 熱門閱讀 鋼鐵產業低碳製程技術發展趨勢 Ga2O3功率元件於電動車應用的發展(上) 高安全鋰電池材料與技術 固態鋰離子電池技術 聚焦二氧化碳再利用,推動脫化石資源依賴 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 友德國際股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 方全有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 銀品科技股份有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司