為研究有機奈米光/ 電薄膜元件效率之影響因素，分析與測量其能階結構便為一重要之研究依據，尤其是在有機/ 無機、有機/ 有機介面中，各膜層能階之匹配與偶極層(Dipole Layer)之形成更是影響載子傳輸效率之關鍵。是故在此探討一可測量分析介面能階校準(Alignment)與能階結構最直接之方法：紫外光光電子能譜(UPS)及X光光電子能譜(XPS) 在有機表/介面中能階結構分析之應用，以了解奈米有機光/電薄膜材料電子能帶及介面結構之關係，獲取奈米有機光/ 電元件之載子傳輸效率提升其關鍵知識，並作為日後在研究軟性電子效率之相關應用及解釋時的依據。