本文謹就薄型IC 封裝的主要參數對翹曲量的影響進行探討，實際上各類型封裝的翹曲量需就實際的幾何結構及材料性質進行各別的分析。對IC 封裝的設計或製造者而言，解析解能夠迅速的提供此類型封裝的翹曲量，並可根據可調整的幾何尺寸和材料性質選用參數的改變，立即獲得隨之而改變的翹曲量，從而對翹曲量進行有效的控制。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 利用感應加熱技術進行非耐熱材料銲錫 工業材料雜誌10月號推出「材料數位網路創新研發應用」與「先進半導體封裝技術與材料」兩大技術專題 精益求精–先進半導體封裝技術與材料 先進封裝製程金屬化設備模擬設計分析 功率模組整合型自動測試技術 熱門閱讀 「Touch Taiwan 2018智慧顯示與觸控展」報導系列一 從專利分析看Micro-LED全球趨勢(上) 「Touch Taiwan 2018智慧顯示與觸控展」報導系列二 半絕緣碳化矽晶圓發展現況 從SID 2018觀察全球顯示器產業新興技術發展動向(下) 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 名揚翻譯有限公司