高科技材料多向微小化、薄膜化發展,因此材料檢測愈顯重要,本文即針對X光薄膜繞射儀做一簡單的介紹。 Download檔案下載 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料微結構與傳導性質關係計算模型簡介 用傳統粉末繞射儀決定薄膜的層厚度與密度 一個實實在在的朋友---材料所結構分析實驗室 自我修復橡膠技術使耐久性提升2倍,計畫2030年代商用化 旭化成等透過光源結構最佳化,實現2 μm波段紅外線雷射振盪 熱門閱讀 晶片級散熱機制簡介 PEEK複材高值化應用技術 電子級聚醯亞胺純化技術與光譜監控之整合解析 創新低溫N₂O觸媒處理技術 電子級氣體與特用化學品的高純度檢測趨勢 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司