高科技材料多向微小化、薄膜化發展,因此材料檢測愈顯重要,本文即針對X光薄膜繞射儀做一簡單的介紹。 Download檔案下載 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料微結構與傳導性質關係計算模型簡介 用傳統粉末繞射儀決定薄膜的層厚度與密度 一個實實在在的朋友---材料所結構分析實驗室 數字年談中文數字 利用水屏蔽太空輻射的太空衣製造技術 熱門閱讀 玻璃基板上TGV的金屬化製程 玻璃成孔技術發展現況 半導體用光酸材料技術 玻璃通孔(TGV)之電鍍銅金屬化處理及其微結構改質 半導體用抗反射層材料 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司