本文說明正電子湮滅壽命光譜技術搭配穿透式電子顯微鏡與穿透式電子斷層掃描顯像術,可相互驗證自由體積與微結構之間的關聯性。藉由這些檢測技術所得到之實驗結果,製程− 微結構−複材性能的新關係將可以被建立,並應用在軟性電子領域之高分子奈米複合材料研發中。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 新世代綠能與生醫產業研發之基磐-前瞻軟物質材料分析技術 透過設計模擬材料微結構與傳導性質關係之研究 以煤焦瀝青類碳纖維作為半導體散熱材料 四十年的堅持與見證,邁向五十的啟程 從製程創新到材料永續–化學工程技術組轉型之路 熱門閱讀 從分子設計到原子級控制,半導體前段製程材料的挑戰與機會 由VLSI 2025 窺看半導體與AI運算技術的結合(上) 從2025日本智慧能源週看氫能技術的最新進展 ALD與ALE技術整合:次世代薄膜製程的挑戰 由VLSI 2025 窺看半導體與AI運算技術的結合(下) 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司