RFID標籤性能之快速評價技術

 

刊登日期:2010/1/5
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近年來RFID 技術已逐漸純熟並蓬勃發展, RFID 標籤的類別相當繁多,薄型且可撓之標籤亦是市場的主流產品之一,由於外在環境或背景物對標籤性能的干擾,衍生RFID系統不穩或標籤讀取不良的問題,同時為因應多領域的RFID 應用需求,加速RFID 標籤開發及應用效率成為重要的課題。本文將簡介UHF頻段的RFID標籤阻抗分析及性能快速評價技術,藉以協助或服務RFID 相關領域的新產品開發或實證實驗前的評估,以加速RFID 相關產業的推動。


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