高科技材料多向微小化、薄膜化發展,因此材料檢測愈顯重要,本文即針對X光薄膜繞射儀做一簡單的介紹。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料微結構與傳導性質關係計算模型簡介 用傳統粉末繞射儀決定薄膜的層厚度與密度 一個實實在在的朋友---材料所結構分析實驗室 Friend Microbe開發高效率微生物排水處理系統,油脂分解速度較既有菌... 利用低溫合成氣新製程,生質氣體高效率轉換為化學原料 熱門閱讀 國際固態電路大會 ISSCC 2025:半導體發展趨勢與記憶體運算技術探討(... IEDM 2024前瞻:鐵電記憶體技術發展與半導體趨勢解析 海洋碳捕獲崛起,更有效率且可望轉換出新經濟價值 由2025 NEPCON Japan看低碳樹脂材料與印刷電路板製程技術與應用 日本綜合化學品製造商聚焦EUV,展望半導體材料領域 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司