高科技材料多向微小化、薄膜化發展,因此材料檢測愈顯重要,本文即針對X光薄膜繞射儀做一簡單的介紹。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料微結構與傳導性質關係計算模型簡介 用傳統粉末繞射儀決定薄膜的層厚度與密度 一個實實在在的朋友---材料所結構分析實驗室 實地觀測雲中水分,首次證明微塑膠存在 伊隆馬斯克和材料科技創新 熱門閱讀 日本打造先進半導體製造體系之觀察與分析 綜觀2023美國DOE氫能年會成果及策略發展 我國IC製造業大宗廢棄物資源化發展概況(上) 鑽石功率半導體材料,可望在電動車大放異彩 國際石化大廠在塑膠回收再利用之發展現況 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 里華科技股份有限公司