本文內容主要係介紹液晶元件厚度之量測方法，由於液晶面板的厚度對光學設計而言，是一重要考量參數，其可直接決定液晶面板的對比度、光穿透度等光學特性。故快速且精準的液晶面板厚度量測方法可直接提高液晶面板的生產率，在面對國外削價競爭的策略下，採用準確且快速的檢測方法，相對可以提升國內廠商在大尺寸面板的競爭力。本文介紹的液晶面板厚度量測方法大致分為兩大部分，第一部分是未灌入液晶材料前之面板厚度量測；第二部份是已灌入液晶材料的液晶面板之厚度量測，此部分又可再細分為光譜量測、色散補償及極化單光強度量測等三種方法，皆可直接應用在產品製程最後階段的檢測工作。最後一種方法是由本實驗室提出，利用單一波長光源來檢測液晶面板厚度，量測方法快速、簡單且準確，希望藉此檢測方法以提升大型液晶面板的生產率。