本文以實驗方式探討62Sn-36Pb-2Cu及62Sn-36Pb-2Ni在兩組環境溫度與平均電流密度測試條件組合下之電遷移現象。實驗結果顯示,錫鉛銅在高溫低電流測試條件下,具有較長電遷移壽命的優越性;在低溫高電流測試條件下,則以錫鉛鎳具較長電遷移壽命。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 覆晶銲錫凸塊之電性及電遷移效應探討 無鉛銲錫之可靠度試驗 花王拓展功率半導體化學品事業,開發出接合材料用銅微粒子 可減少半導體損壞的低熔點無鉛合金焊料 適用於車用功率半導體之高耐熱無鉛合金 熱門閱讀 國際固態電路大會 ISSCC 2025:半導體發展趨勢與記憶體運算技術探討(... IEDM 2024前瞻:鐵電記憶體技術發展與半導體趨勢解析 由2025 NEPCON Japan看低碳樹脂材料與印刷電路板製程技術與應用 日本綜合化學品製造商聚焦EUV,展望半導體材料領域 原子層沉積之應用與未來發展趨勢 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司