目前主流電子產品不論是個人電腦或手機,其工作頻譜均往高頻及寬頻快速發展,因此波長縮小與整合化所引發之高頻材料問題已然浮現,電路設計所需之材料高頻參數,如介電常數和導磁率之量測及其精度往往是設計工程師最大的困擾,因此整合精確材料設計參數及元件模型參數萃取之測試平台是產業需求重點。在微波頻段下要取得精確介電常數,可以使用穿透反射或共振方式量測,本文將對這些方法作一簡單的介紹。Jerzy Krupka1 、黃威特2 、唐敏注3 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 無輻射介質波導結合微帶線之轉換效能分析與寄生模態抑制 LINTEC將展開毫米波波段電磁波穿透/反射片的實用化 TORAY開發出多層構造毫米波吸收膜 高頻元件技術發展趨勢 由CFRP電極構成之新型壓電振動發電裝置 熱門閱讀 半導體產業廢硫酸純化再利用 化合物半導體材料市場與應用導論 碳化矽晶體成長技術發展 探索來自天際的能源,夢想中的太空太陽能發電 新穎5G軟性基板材料開發與應用 相關廠商 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司