目前主流電子產品不論是個人電腦或手機,其工作頻譜均往高頻及寬頻快速發展,因此波長縮小與整合化所引發之高頻材料問題已然浮現,電路設計所需之材料高頻參數,如介電常數和導磁率之量測及其精度往往是設計工程師最大的困擾,因此整合精確材料設計參數及元件模型參數萃取之測試平台是產業需求重點。在微波頻段下要取得精確介電常數,可以使用穿透反射或共振方式量測,本文將對這些方法作一簡單的介紹。Jerzy Krupka1 、黃威特2 、唐敏注3 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 無輻射介質波導結合微帶線之轉換效能分析與寄生模態抑制 磁性相變大幅提升自旋霍爾效應,開拓次世代磁性記憶體新功能 Fe-Cu-Ag超細複合粉體兼具強磁性與高導電性,有望應用於半導體測試 超薄電波吸收體,解決高速通訊設備與人形機器人的高頻雜訊問題 突破銅配線極限,慶應大學等發表4項1 nm世代低電阻互連技術 熱門閱讀 功率半導體元件與散熱技術 寬能隙功率半導體封裝之結構設計與互連技術挑戰 功率半導體之高導熱陶瓷基板材料技術與應用發展 廢氫氟酸轉製冰晶石有價資源化技術 AI世代之次世代功率半導體產業發展 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司