【專題導言】1頁
本期技術專題將介紹本技術團隊在「高階檢測分析技術」之發展近況。文章開頭呈獻給讀者的是高豐生博士與朱仁佑博士研究團隊在「高階掃描探針顯微鏡的工業應用實例—新穎表面特性辨識技術」一文，說明高階探針檢測技術之基本原理、實際應用案例。在高階質譜分析技術方面，黃靜萍博士以高階質譜檢測分析技術協助高分子材料研發者瞭解材料內添加劑成分與裂解機制，並加速功能性材料開發之時程。針對奈米粒子、生物聚合物與合成高分子材料，蘇秋琿博士於「不對稱流場場流分離—光散射技術於材料發展之應用」文中，介紹此獨特的流場分離技術。蘇博士團隊所建立的分離檢測方法可應用於材料的開發與品質的監控，並可據以研究、預測，改進聚合物物性、化性或其動力反應。最後，張睦東博士於「球差校正電鏡、臨場與低溫電鏡檢測技術於產業應用之研究」一文分享工研院材化所在先進球差電鏡技術之發展近況。工研院材化所高階檢測分析技術團隊以建立國內最前瞻之檢測分析技術為期許，期盼引導產業創新，進而促進產業昇級成為國內產業重要之檢測伙伴。