在LED晶片接面所產生的熱，對於整體LED的發光效率、波長偏移和壽命的影響非常大。但因透明膠體覆蓋於晶片表面，使得晶片接面溫度的量測變得很困難，本文將介紹利用電性方式量測LED熱阻，包括標準(Standard)量測、脈衝順向電壓、NIST 和暫態等方法。 Download檔案下載 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 LED靜電破壞的耐受性及失效探討 白光LED光色穩定度檢測技術 LED光源壽命試驗方法與標準 LED光源壽命試驗方法與標準 LED熱阻量測技術(下) 熱門閱讀 玻璃基板上TGV的金屬化製程 玻璃成孔技術發展現況 半導體用光酸材料技術 玻璃通孔(TGV)之電鍍銅金屬化處理及其微結構改質 半導體用抗反射層材料 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司