在LED晶片接面所產生的熱,對於整體LED的發光效率、波長偏移和壽命的影響非常大。但因透明膠體覆蓋於晶片表面,使得晶片接面溫度的量測變得很困難,本文將介紹利用電性方式量測LED熱阻,包括標準(Standard)量測、脈衝順向電壓、NIST 和暫態等方法。 Download檔案下載 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 LED靜電破壞的耐受性及失效探討 白光LED光色穩定度檢測技術 LED光源壽命試驗方法與標準 LED光源壽命試驗方法與標準 LED熱阻量測技術(下) 熱門閱讀 功率半導體元件與散熱技術 寬能隙功率半導體封裝之結構設計與互連技術挑戰 功率半導體之高導熱陶瓷基板材料技術與應用發展 廢氫氟酸轉製冰晶石有價資源化技術 諾貝爾獎加持「MOF」,夢幻材料走向產業化 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 正越企業有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司