材料發展進入奈米世界,場發射穿透式電子顯微鏡成為奈米材料分析之利器,原子級高解析度,配合上奈米微區X光能量分散光譜儀、電子能量損失譜儀,可對材料微區做成份、鍵結鑑定,另加裝掃瞄系統,可為掃瞄穿透式電子顯微鏡,使其功能更臻完備。 Download檔案下載 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 奈米科技區域服務網絡──檢測技術建置 場發射掃描式電子顯微鏡分析技術應用簡介 奈米檢測能力之提升-先進檢測技術之建構 感應耦合電漿質譜儀在材料分析的應用 FE-SEM/CL/EBSD 分析技術簡介 熱門閱讀 「10分鐘內」超急速充電技術進展有成,全固態電池最受青睞 AI在化學反應優化的應用 AI在化工製程節能應用 AI於MBR系統中之品質控制與能源優化應用:以膜絲瑕疵檢測與廢水曝氣... 國際固態電路大會 ISSCC 2025:半導體發展趨勢與記憶體運算技術探討(... 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 正越企業有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司