日本山形大學研究團隊利用大數據處理的一種「曲線圖解析」，開發出可解析新物質的晶體結構的手法。以企業與研究機構廣為使用的測定裝置的實驗數據為基礎，相較於過去，能以短時間及近100%的確率測出晶體結構。 粉末結晶材料的X光散射技術裝置的數據至今須耗費長時間進行解析，研究團隊使用數學理論開發出新軟體，解決特有的問題。過去的軟體須花費1小時左右，新軟體僅須5~10分左右，相較於過去，測出晶體結構的成功率為40~60%，新軟體高達80%，實質上接近100%。 資料來源: 日經產業新聞 / 材料世界網編譯 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 高導熱金屬基熱界面材料之技術發展 旭化成等透過光源結構最佳化，實現2 μm波段紅外線雷射振盪 數字年談中文數字 利用水屏蔽太空輻射的太空衣製造技術 科幻與AI 熱門閱讀 功率半導體元件與散熱技術 寬能隙功率半導體封裝之結構設計與互連技術挑戰 功率半導體之高導熱陶瓷基板材料技術與應用發展 廢氫氟酸轉製冰晶石有價資源化技術 AI世代之次世代功率半導體產業發展 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司