日本山形大學研究團隊利用大數據處理的一種「曲線圖解析」，開發出可解析新物質的晶體結構的手法。以企業與研究機構廣為使用的測定裝置的實驗數據為基礎，相較於過去，能以短時間及近100%的確率測出晶體結構。 粉末結晶材料的X光散射技術裝置的數據至今須耗費長時間進行解析，研究團隊使用數學理論開發出新軟體，解決特有的問題。過去的軟體須花費1小時左右，新軟體僅須5~10分左右，相較於過去，測出晶體結構的成功率為40~60%，新軟體高達80%，實質上接近100%。 資料來源: 日經產業新聞 / 材料世界網編譯 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 數字年談中文數字 利用水屏蔽太空輻射的太空衣製造技術 科幻與AI 芝加哥大學開發出高效率從海水中抽取鋰之新方法 日企對應永續成長的研發藍圖 熱門閱讀 玻璃基板上TGV的金屬化製程 玻璃成孔技術發展現況 半導體用光酸材料技術 玻璃通孔(TGV)之電鍍銅金屬化處理及其微結構改質 半導體用抗反射層材料 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司