動態光散射、電氣泳動光散射、AI影像辨識、圖像數據資料、液態SEM技術分析
本次研討會主題為「2024先進材料精準粒子分析研討會」，超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與量測上的knowhow，各種意想不到的界達電位、粒徑大小、表面電位等在各領域的關鍵突破。
此外，工研院背景的新銳公司邑流微測分享包括半導體及生醫製藥等熱門領域，聚焦在潔淨、智慧製造等關鍵字，引領ESG最新潮流。究竟日本光學技術大廠與台灣的新秀公司能擦出什麼火花!?希望能為大家提供更多元的產學界的學術交流與產業應用。名額有限，請盡早報名。
■ 主辦單位：大塚科技股份有限公司、辛耘企業股份有限公司、邑流微測股份有限公司
■ 協辦單位：工研院材料與化工研究所
■ 活動日期、地點：
■ 新竹：2024年5月21日(二) 工研院51館 4樓國際會議中心
新竹縣竹東鎮中興路四段195號51館4樓
■ 台中：2024年5月22日(三) 中興大學 應用科技大樓 B1國際會議廳
台中市南區興大路145號 B1 國際會議廳
■ 高雄：2024年5月23日(四) 翰品酒店 6樓春耕廳
高雄市鹽埕區大仁路43號 6樓
■ 議程：
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時間
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議 程
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講 者
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13:00
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報 到
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13:10
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積於跬步：「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹
大塚半世紀累積的光散射量測方法的原理簡述及量測方法介紹，包含於從產品開發到產線上品管的各種使用情境最佳選擇。
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賴彥成 副理/大塚科技股份有限公司
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13:40
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日新月異：「界達電位粒徑的最新應用案例及量測knowhow」
為您介紹最前沿的界達電位、粒徑、固體表面電位等項目應用於半導體、生物科技、材料等等領域的最新發展應用。以及量測上需要注意的knowhow。
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橋田紳乃介 負責人/大塚電子株式會社
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14:20
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Q&A
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14:30
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中場休息
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14:50
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半導體產業鏈的AI微粒觀測潔淨製造
隨淨零轉型的腳步，半導體產業如何透過AI快速的辨識及產出圖像資料參數建立製程管理COA引導自動化智慧生產，達到精準節能減碳與循環經濟，同步雙軌實踐ESG+EPS。
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林鈺凱 博士/邑流微測股份有限公司
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15:35
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關於AI微粒觀測生醫製藥智慧製造運用
前瞻性生醫製藥智慧製程新法，支援流速液態下觀測藥物形貌及生物微粒，透過5個AI智慧度量一分鐘產出萬筆圖像資訊，以百倍速濃縮動態管理時效與人力。
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李正宇 經理/邑流微測股份有限公司
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■ 費用：免費！
■ 報名方式：
1.線上報名：https://forms.gle/NYtY1ZeCsmCtN4d79
2.傳真報名：請填寫下方附件報名表並傳真至：02-87512020或E-mail：laura.chan@scientech.com.tw
■ 聯絡窗口：詹小姐 02-87512323#1171、laura.chan@scientech.com.tw