低溫雙束型聚焦離子束(低溫DB-FIB)分析技術是一種適用於定點研究生命科學與軟物質樣品之內部微結構的檢測策略,包含樣品冷凍、前處理及低溫截面分析三個主要步驟。在此我們提供概括性的技術面論述,前段主要介紹雙束型聚焦離子束及低溫傳輸系統中的各個功能性組成,接著則著重討論各主要作業步驟所含括的方法細節。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 奈米過濾膜應用與濾膜截留量分析技術 感壓膠流變性質分析技術 2016 FINETECH JAPAN /高功能材料展 Live報導系列三 電化學阻抗頻譜分析技術之發展與應用方向 PALS與EM檢測技術在奈米複合材料之應用 熱門閱讀 鋼鐵產業低碳製程技術發展趨勢 Ga2O3功率元件於電動車應用的發展(上) 高安全鋰電池材料與技術 固態鋰離子電池技術 聚焦二氧化碳再利用,推動脫化石資源依賴 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 友德國際股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 方全有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 高柏科技股份有限公司 銀品科技股份有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司