低溫DB-FIB分析技術介紹

 

刊登日期:2011/1/5
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低溫雙束型聚焦離子束(低溫DB-FIB)分析技術是一種適用於定點研究生命科學與軟物質樣品之內部微結構的檢測策略,包含樣品冷凍、前處理及低溫截面分析三個主要步驟。在此我們提供概括性的技術面論述,前段主要介紹雙束型聚焦離子束及低溫傳輸系統中的各個功能性組成,接著則著重討論各主要作業步驟所含括的方法細節。


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