低溫雙束型聚焦離子束(低溫DB-FIB)分析技術是一種適用於定點研究生命科學與軟物質樣品之內部微結構的檢測策略,包含樣品冷凍、前處理及低溫截面分析三個主要步驟。在此我們提供概括性的技術面論述,前段主要介紹雙束型聚焦離子束及低溫傳輸系統中的各個功能性組成,接著則著重討論各主要作業步驟所含括的方法細節。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 奈米過濾膜應用與濾膜截留量分析技術 感壓膠流變性質分析技術 2016 FINETECH JAPAN /高功能材料展 Live報導系列三 電化學阻抗頻譜分析技術之發展與應用方向 PALS與EM檢測技術在奈米複合材料之應用 熱門閱讀 從2026日本奈米展看材料發展 功率半導體元件與散熱技術 民生用廢塑膠容器智慧辨識與分選技術之發展與實場應用 高純鎵金屬循環回收技術—從二次資源提取純化到產業應用 寬能隙功率半導體封裝之結構設計與互連技術挑戰 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 正越企業有限公司 山衛科技股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司