矽基太陽電池的缺陷特性可利用螢光影像技術檢測，此法如同半導體元件之發光二極體(Light-Emitting Diode; LED)，矽基材料元件會發出非可見光的近紅外光波長，使用電荷耦合元件(Charge Coupled Device; CCD)之電致發光(Electroluminescence; EL)影像可精準檢測太陽電池與模組缺陷特性，以不同電致發光操作方法可分別檢測出太陽電池與模組之網印缺陷、電極缺陷、隱裂與破裂缺陷、傳導不良區域。電致發光缺陷檢測技術是種簡易、高靈敏度與快速的方法，可應用於太陽電池的區域特性檢測、製程參數回饋與產品品質管控。