先進超音波檢測技術—相位式陣列技術評析

 

刊登日期:2008/1/5
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相位式陣列技術可提供電子式操縱超音波波束的能力,可幾乎同時傳送多個角度進入材料中,並且藉由波束聚焦來提高缺陷檢測的訊雜比。相位式陣列系統的多角度能力可提供比傳統超音波檢測更快速的檢測,並以較佳的呈像能力幫助數據分析,使其逐漸被廣泛地使用在各領域之組件檢測。

本研究評估先進的相位式陣列超音波非破壞檢測方法,應用在鑄造不銹鋼與其它粗晶粒組件之檢測效能與可靠度,以期提升非破壞檢測方法,來改善粗晶鋼材組件中缺陷之檢測、定位與度量。


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