AES/ESCA/XPS一直是研究表面／薄膜材料之重要分析工具，而現代之場發射式歐傑電子顯微鏡(FE-AES)及微區表面化學電子能譜儀(µ-ESCA/XPS)除包含所有AES/ESCA/XPS之功能外，更增強了許多以往分析上之能力與應用，如反射式電子能量損失能譜(REELS)、10nm以下之影像解析度、低能離子縱深分析、高解析之化態分析、絕緣材質分析⋯等，本文即重點式的介紹工研院材料所今年新購置之多功能FE-AES及µ-ESCA/XPS檢測儀器分析方法及應用，希望做為日後讀者利用其先進功能以開發新產品之依據。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 結合分析化學與純化技術的產業高值應用 石化產品的分析與快篩技術應用 三井化學分析中心提供高度化CNF分析評估 固態核磁共振在有機/ 無機合界面及材料特性研究之應用 雷射誘發電漿光譜技術之應用 熱門閱讀 由應用市場看Micro LED發展趨勢 氫能趨勢分析與儲能應用新思維 固態電池最新發展 商用感測器發展現況及未來趨勢(上) 鋰電池材料研發近況 相關廠商 金屬3D列印服務平台 名揚翻譯有限公司 華錦光電科技股份有限公司 高柏科技有限公司 銀品科技股份有限公司 友德國際股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 里華科技股份有限公司 喬越實業有限公司 廣融貿易有限公司 台灣鑽石工業股份有限公司 科邁斯科技股份有限公司 方全有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 正越企業有限公司 誠企企業股份有限公司