AES/ESCA/XPS一直是研究表面／薄膜材料之重要分析工具，而現代之場發射式歐傑電子顯微鏡(FE-AES)及微區表面化學電子能譜儀(µ-ESCA/XPS)除包含所有AES/ESCA/XPS之功能外，更增強了許多以往分析上之能力與應用，如反射式電子能量損失能譜(REELS)、10nm以下之影像解析度、低能離子縱深分析、高解析之化態分析、絕緣材質分析⋯等，本文即重點式的介紹工研院材料所今年新購置之多功能FE-AES及µ-ESCA/XPS檢測儀器分析方法及應用，希望做為日後讀者利用其先進功能以開發新產品之依據。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 Toray推出再生聚合物微量雜質之高精度成分分析服務 Anton Paar 顯微流變測試技術 可攜式光譜儀最新發展 結合分析化學與純化技術的產業高值應用 石化產品的分析與快篩技術應用 熱門閱讀 三菱瓦斯化學積極展開光電融合材料應用提案 含氟廢水回收再利用模式 玻璃基板上TGV的金屬化製程 加氫站技術與產業發展趨勢 全球第一個碳-14鑽石電池問世，可望供電數千年 相關廠商 台灣石原產業股份有限公司 Hach台灣辦事處 金屬3D列印服務平台 山衛科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 廣融貿易有限公司 高柏科技股份有限公司 正越企業有限公司 工研院材化所 材料世界網 桂鼎科技股份有限公司 照敏企業股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司