以數學理論測定晶體結構

 

刊登日期:2017/5/24
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日本山形大學研究團隊利用大數據處理的一種「曲線圖解析」,開發出可解析新物質的晶體結構的手法。以企業與研究機構廣為使用的測定裝置的實驗數據為基礎,相較於過去,能以短時間及近100%的確率測出晶體結構。

粉末結晶材料的X光散射技術裝置的數據至今須耗費長時間進行解析,研究團隊使用數學理論開發出新軟體,解決特有的問題。過去的軟體須花費1小時左右,新軟體僅須5~10分左右,相較於過去,測出晶體結構的成功率為40~60%,新軟體高達80%,實質上接近100%。


資料來源: 日經產業新聞 / 材料世界網編譯
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