日本山形大學研究團隊利用大數據處理的一種「曲線圖解析」，開發出可解析新物質的晶體結構的手法。以企業與研究機構廣為使用的測定裝置的實驗數據為基礎，相較於過去，能以短時間及近100%的確率測出晶體結構。 粉末結晶材料的X光散射技術裝置的數據至今須耗費長時間進行解析，研究團隊使用數學理論開發出新軟體，解決特有的問題。過去的軟體須花費1小時左右，新軟體僅須5~10分左右，相較於過去，測出晶體結構的成功率為40~60%，新軟體高達80%，實質上接近100%。 資料來源: 日經產業新聞 / 材料世界網編譯 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 框架效應 MIT發現將分子冷卻至接近絕對零度的手法 善用國際資源推展綠能及優勢技術 Multiwave 5000最友善的微波消化系統 奈米流體先進研究探討：以電子冷卻應用為例 熱門閱讀 鋰電池材料最新發展趨勢(上) 從IDW 2019看「OLED」、「QLED」與「microLED」的發展(上) 超薄均熱板之技術與發展趨勢 全球生物循環經濟的技術與其應用發展(上) 高分子發泡技術及市場發展(上) 相關廠商 名揚翻譯有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 東海青科技股份有限公司 金屬3D列印服務平台 里華科技股份有限公司 科邁斯科技股份有限公司