日本山形大學研究團隊利用大數據處理的一種「曲線圖解析」，開發出可解析新物質的晶體結構的手法。以企業與研究機構廣為使用的測定裝置的實驗數據為基礎，相較於過去，能以短時間及近100%的確率測出晶體結構。 粉末結晶材料的X光散射技術裝置的數據至今須耗費長時間進行解析，研究團隊使用數學理論開發出新軟體，解決特有的問題。過去的軟體須花費1小時左右，新軟體僅須5~10分左右，相較於過去，測出晶體結構的成功率為40~60%，新軟體高達80%，實質上接近100%。 資料來源: 日經產業新聞 / 材料世界網編譯 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 Multiwave 5000最友善的微波消化系統 奈米流體先進研究探討：以電子冷卻應用為例 慶應大學與Spiber解明蜘蛛絲強度的秘密，成功解析基因系統 從韓非子到熱力學的管理技法 漢諾威工業展 5G導入與AI活用受矚目 熱門閱讀 「Touch Taiwan 2019智慧顯示展」現場報導系列二 SID 2019：顯示器新興應用總覽 從2019 JPCA Show看PCB材料發展趨勢(上) 全球銅箔基板市場發展趨勢 5G通訊濾波器 相關廠商 東海青科技股份有限公司 大東樹脂化學股份有限公司 名揚翻譯有限公司 金屬3D列印服務平台 里華科技股份有限公司 科邁斯科技股份有限公司