一個可能低角度繞射參考標準─ 樹酸銀─之X 光粉末繞射分析

 

刊登日期:2000/11/5
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粉末繞射技巧用以描述一個可能作為低角度繞射參考標準-樹酸銀(Silver Behenate)。以波長1.54A 之同步輻射線與CuKα射線在 1.5°至20°2θ 之間可以得到十三個( 00l )定間隔繞射峰。使用國家標準技術研究所(National Institute of Standards and Technology, NIST)標準參考材料矽為內在參考標準樹酸銀之長週期d001 藉剖面匹配(Profile Fitting)同步輻射繞射峰而被精確定為58.380(3)A 。這個結果與使用CuKα圖譜剖面匹配分析的結果是一致的。樹酸銀繞射峰的半高寬(Full Width Half Maximum)遠比矽的半高寬顯著地變寬。應用Scherrer 公式計算,沿樹酸銀小晶體(Crystallite)長間隔方向,其平均D 值為900(50)A。由於樹酸銀在1.5°至20°2θ間有頗多很清晰而且均勻分布的繞射峰,它頗適用於用作低角度校正參考標準。由於它本身繞射峰變寬效應,如果要用它作為繞射峰變寬剖面校正參考時就必須特別小心了。 ?
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