高科技材料多向微小化、薄膜化發展,因此材料檢測愈顯重要,本文即針對X光薄膜繞射儀做一簡單的介紹。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料微結構與傳導性質關係計算模型簡介 用傳統粉末繞射儀決定薄膜的層厚度與密度 一個實實在在的朋友---材料所結構分析實驗室 風光互補候車亭性能配置評估 隨插即用太陽光電(PIPV)之國內外現況分析 熱門閱讀 從2026日本奈米展看材料發展 功率半導體元件與散熱技術 民生用廢塑膠容器智慧辨識與分選技術之發展與實場應用 高純鎵金屬循環回收技術—從二次資源提取純化到產業應用 寬能隙功率半導體封裝之結構設計與互連技術挑戰 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司