材料科學日新月異且極小化、輕便化，薄膜材料之應用於電子業就越來越廣泛。薄膜材料微結構分析變得越來越重要，厚度與密度乃其重要參數中的兩個，可以用X 光粉末繞射儀之鏡面反射來測定。國內各大專院校、研究機構、工業界之微結構分析實驗室中置有X 光粉末繞射儀者頗多，只要傳統X 光粉末繞射儀之θ 軸與2 θ 軸可以獨立旋轉，步進Step 小(如0.005°、0.01°)且可由微處理機(Microprocessor)記錄下來，就可以作薄膜之厚度與密度之量測。如需更精確數據，再找裝有施轉靶的高解析度X 光繞射儀來量測(國內極少)。這是譯本文以饗讀者的原因。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料微結構與傳導性質關係計算模型簡介 X光薄膜繞射儀簡介 一個實實在在的朋友---材料所結構分析實驗室 實現高功率密度軸向磁通馬達之先進軟磁複合材料技術 MOD墨水噴印技術 熱門閱讀 功率半導體元件與散熱技術 寬能隙功率半導體封裝之結構設計與互連技術挑戰 功率半導體之高導熱陶瓷基板材料技術與應用發展 廢氫氟酸轉製冰晶石有價資源化技術 AI世代之次世代功率半導體產業發展 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司