材料科學日新月異且極小化、輕便化，薄膜材料之應用於電子業就越來越廣泛。薄膜材料微結構分析變得越來越重要，厚度與密度乃其重要參數中的兩個，可以用X 光粉末繞射儀之鏡面反射來測定。國內各大專院校、研究機構、工業界之微結構分析實驗室中置有X 光粉末繞射儀者頗多，只要傳統X 光粉末繞射儀之θ 軸與2 θ 軸可以獨立旋轉，步進Step 小(如0.005°、0.01°)且可由微處理機(Microprocessor)記錄下來，就可以作薄膜之厚度與密度之量測。如需更精確數據，再找裝有施轉靶的高解析度X 光繞射儀來量測(國內極少)。這是譯本文以饗讀者的原因。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 材料微結構與傳導性質關係計算模型簡介 X光薄膜繞射儀簡介 一個實實在在的朋友---材料所結構分析實驗室 風光互補候車亭性能配置評估 隨插即用太陽光電(PIPV)之國內外現況分析 熱門閱讀 2026 Battery Japan-全球電池市場及技術分析 潮流發電邁向商用化，九州電力佈局離島能源新解方 3M低銥觸媒量產，推動PEM水電解低成本化與普及 從2026日本奈米展看材料發展 東北大學解明Janus 2D材料合成機制，可望加速次世代半導體開發 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司