本文主要是利用軟板型堆疊式CSP(Stacked Chip Scale Package ; Stacked CSP)結構進行封裝。為配合現有的製程條件,故利用舊有的BGA 模具進行封裝。在完成封裝製程後,不僅翹曲值依然保持在合格的範圍之內,亦能通過JEDEC JESD22A113A Level 3 的短期可靠度測試以及JEDEC 之PCT 、TCT 、TST 的長期可靠度測試。 Download檔案下載 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 鍛造用Mg-Al-Zn 系鎂合金熔銲製程之探討 抗拉強度達790 Mpa之全新鋁合金 鋁及鎂合金半固態觸變鑄造技術 鎂及鋁合金之超塑性成型 從ICFD 2024看流體動力學發展現況 熱門閱讀 2026 Battery Japan-全球電池市場及技術分析 潮流發電邁向商用化,九州電力佈局離島能源新解方 3M低銥觸媒量產,推動PEM水電解低成本化與普及 從2026日本奈米展看材料發展 東北大學解明Janus 2D材料合成機制,可望加速次世代半導體開發 相關廠商 新加坡商英彼克有限公司台灣分公司 台灣石原產業股份有限公司 金屬3D列印服務平台 正越企業有限公司 高柏科技股份有限公司 喬越實業股份有限公司 山衛科技股份有限公司 台灣大金先端化學股份有限公司 台灣永光化學股份有限公司 桂鼎科技股份有限公司 工研院材化所 材料世界網 大東樹脂化學股份有限公司 志宸科技有限公司