日本芝浦工業大學與產業技術綜合研究所(AIST)開發出一套可應用於辨識全氟/多氟烷基物質(PFAS)來源的分析系統。透過檢測PFAS所含碳元素的同位素(Isotope)比例，可望區分其製造方法差異，進而推定污染來源。此項技術亦可分析低濃度且含雜質的樣品，突破以往技術限制，未來可望成為河川與廢水等環境中PFAS來源追蹤的重要工具。
PFAS具有高度環境持久性，容易在環境中長距離傳輸，並可在生物體內累積。雖然其對人體健康的影響仍有許多未解之處，但因具有優異的撥水性與耐熱性，長期以來被廣泛應用於工業製品與日用品。然而，由於PFAS來源多樣且擴散性高，過去難以有效進行污染源鑑別。
芝浦工業大學研究團隊著眼於PFAS中碳的同位素比率特徵。同位素是指同一元素中，質子數相同但中子數不同、質量略有差異的原子。一般同位素分析方法須先將樣品燃燒轉換為氣體，但環境中微量存在的PFAS不易氣化，因此分析工作較為困難。
為此，研究團隊採用高解析度精密質量分析儀「Orbitrap」，建立無需氣化的分析方法，成功對PFAS代表性物質—全氟辛酸(PFOA)與全氟辛烷磺酸(PFOS)進行同位素比測定。結果顯示，PFOA存在多種穩定同位素比例組合，顯示其可能反映不同製程特徵，為來源辨識提供重要線索。
此外，在將PFAS添加至含有多種物質的河川水樣中進行測試後，新技術仍能維持高精度分析能力，顯示其具備實際環境應用潛力。今後研究將進一步挑戰更低濃度PFAS的檢測與解析能力，以強化環境監測與污染溯源技術。