提供半導體原物料、結構陶瓷與薄膜材料量測技術,從原物料到後端產品的材料特性分析、缺陷檢測與元件失效模式,協助半導體關鍵物料、陶瓷零組件、化合物半導體磊晶廠、封測廠等的新產品研發。 ■ 應用 ▶ 高純物料元素分析 ▶ 材料表面改質技術 ▶ 再生料源循環利用 ▶ 化合物半導體材料合成與驗證技術 ■ 應用 ▶ 半導體設備陶瓷零組件熔點與結晶點 ▶ 陶瓷基板特性檢測 ▶ 陶瓷散熱 / 發熱材分析 ▶ 陶瓷材料強度檢測 工研院材化所 X500 先進陶瓷薄膜與應用研究室 相關文件:2025MCL-Highlights-X500.pdf 分享 聯絡我們