半導體用高介電圖案化材料

 

刊登日期:2025/5/5
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鄭志龍 / 工研院材化所
 
隨著半導體技術的快速發展,異質封裝成為提升系統效能與縮小封裝尺寸的關鍵技術。去耦電容作為電源完整性的重要元件,需具備高電容密度、低寄生效應與良好的製程兼容性。嵌入式去耦電容透過高介電常數材料整合至封裝基板,有助於提升供電品質,尤其在異質整合與系統級封裝技術中發揮關鍵作用。此外,在3D IC封裝中,高介電薄膜去耦電容能提升晶片間的訊號完整性。傳統高介電材料多為非感光型,因此開發可圖案化的高介電有機–無機混合材料,相較於傳統陶瓷電容與低介電材料,可圖案高介電聚醯亞胺在異質封裝中展現出更高的設計靈活性、更低的製造成本與優異的熱穩定性,其選用感光性聚醯亞胺與BaTiO3粉體,透過高介電分子設計與粉體分散技術,提升介電常數並降低空隙形成,可進一步優化去耦電容與先進封裝的應用。本文探討了高介電感光性圖案化材料的設計原則、製造方法及其在先進半導體封裝製程中的應用。

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