本文介紹工研院材料所建立之雷射誘發電漿光譜技術 (Laser Induced Plasma Spectroscopy; LIPS)。本研究利用脈衝Nd:YAG 雷射在試片表面產生微量電漿，再以收光器及光纖將電漿之放光訊號收集傳入光譜儀中，以ICCD 分析電漿之光譜(200~850nm)，作為試片內各種元素含量之指紋(Fingerprint)，此電漿光譜為試片中所含元素之原子及離子光譜。LIPS技術具有快速、現場(In-situ)分析元素之優點，且試片不需作任何處理，屬於非破壞（或微量破壞）之技術。本研究以LIPS 技術檢測純度99.9% 以上之標準試片─ Ag 、Al 、Ca 、Cd 、Cr 、Cu 、Fe 、In 、Mg 、Mo 、Mn 、Ni 、Pb 、Sn 、Ti 、Zn 等元素，建立元素之光譜資料庫並參考已知之資料庫作為元素比對之依據。以市售食鹽及低鈉鹽為例，利用LIPS技術能快速檢測食鹽中鉀與氯元素之光譜，以鉀之含量來確認是否為低鈉鹽。該技術未來可應用於合金熔煉之成份監測、偽藥之鑑定以及生藥、土壤中重金屬污染之現場快速檢測。