【技術領航】2026 微奈米粒徑分析技術論壇:光散射與雷射繞射的關鍵數據解析  

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【技術領航】2026 微奈米粒徑分析技術論壇:光散射與雷射繞射的關鍵數據解析
 
於此追求材料性能極致化之時代,「粒徑控制」與「界面電性鑑定」乃為研發成功之核心。本次論壇特別針對跨尺度粒徑分析,邀請產學界權威,帶您深入掌握分散安定性與粉體量測之關鍵技術。
 
  特邀專家講師介紹  
 
【學界權威:電池與 LED 材料開發】 劉如熹 特聘教授(國立臺灣大學化學系) — 新竹場(6/10) 劉教授為無機材料界之重量級學者,將針對 電池材料與 LED 相關 之最新研究,分享微奈米材料於製程中之關鍵特性分析。
 
【界面電性專家:奈米材料分析】 曾韋龍 教授(國立中山大學化學系) — 台南場(6/9) 曾教授深耕於奈米材料表面特性,將深入探討 Zeta Potential 對研究奈米材料之重要性,解析界面電位如何影響材料之分散與穩定。
 
 
  演講主題  
 
講師:國立臺灣大學化學系 劉如熹 特聘教授
 
 
表面改質與顆粒分布對材料研究之影響: 將以實例介紹如何藉由表面改質改變固態電解質之界面電位於固態鋰離子電池之研究與控制螢光粉之粒徑與分布於發光二極體研究。
 
     
 
講師國立中山大學化學系 曾韋龍 特聘教授
 
 
測量介面電位對於奈米材料應用的重要性: Zeta potential 是奈米材料研究中一個非常重要的參數。Zeta potential的絕對值大小對於奈米材料的表面特性和穩定性有一定的代表性,因此材料的開發與應用都可以藉由Zeta potential來確認,甚至可以作為往後品管的標準。
 
     
 
講師大塚科技賴彥成 副理 (Otsuka) 
 
 
先端光散射應用: 本專題聚焦 Otsuka ELSZneo 尖端應用,透過獨家固體表面電位量測與奈米粒徑分析,深度鑑定材料的分散安定性。助您精準掌握板狀或懸浮樣品的界面特性,突破研發瓶頸,實現材料品質的全面進化。
 
     
 
講師辛耘企業張順陞 副理 (Fritsch) 
 
 
多樣化樣品解決方案: 深入探討「雷射繞射技術在粉體與懸浮液分析」之應用,特別針對微奈米粒徑與乾溼式量測需求,提供高方位之分析對策。
 
     
 
| 研討主題 |
 
 
13:00
 報 到
 
 
13:20 
 掌握材料分散:由粒徑分佈至固液界面電位的高階光散射技術
 賴彥成 副理/大塚科技股份有限公司
 
 
14:20 
 Q&A 中場休息
 
 
14:40 
 多樣化分析:雷射繞射技術在粉體與懸浮液分析的先端應用
 張順陞 副理/辛耘企業股份有限公司
 
 
15:40
 Q&A 中場休息
 
 
16:00 
 表面改與顆粒分布對材料研究之影響
 劉如熹 教授/國立臺灣大學化學系  特聘教授        
 
 
 測量介面電位對於奈米材料應用的重要性
 曾韋龍 教授/國立中山大學化學系 特聘教授          
 
 
16:30 
 Q&A 
 
     
 
| 日期、地點 |
 
 
台南 6/  9 (二)太子文旅C廳 台南市東區大學路2號
 
 
新竹 6/10 (三)工研院51館4樓國際會議中心 新竹縣竹東鎮中興路4段195號
 
     
  | 主辦單位、協辦單位 |  
        
     
 
| 研討會諮詢 |
Laura Chan 詹小姐
02-87512323#1171
laura.chan@scientech.com.tw
 
  本活動謝絕同業參加,並禁止於活動期間錄影錄音,造成不便敬請見諒。  
 
活動當日請攜帶身份文件(名片、工作證、學生證等)、主辦單位保留隨時修改、變更、暫停並終止本活動內容之權利。
 
 
 

 

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