電子顯微鏡

   FE-SEM
EBSD應用在低溫多晶矽薄膜之為結構分析與研究
FE-SEM-CL-EBSL分析技術簡介
FE-SEM場發射掃描式電子顯微鏡分析技術應用簡介
FE-SEM場發射掃描是電子顯微鏡與附加功能配件之原理及應用
電子顯微鏡介紹-SEM
EBSD應用在低溫多晶矽薄膜之微結構分析與研究

   FE-TEM
電子顯微鏡試片製備技術總論
FE-TEM新世代場發射穿透式點子顯微鏡應用在工研院奈米檢測就之應用-上
FE-TEM新世代場發射穿透式點子顯微鏡應用在工研院奈米檢測就之應用-下
FE-TEM場發射穿透電子顯微鏡簡介
TEM穿透式電子顯微鏡於奈米材料之分析簡介
奈米結構檢測技術在半導體材料結構之分析∼EM與X光源分析儀新功能應用
新TEM成像技術在材料科技的應用
新世代電子顯微鏡試片製備技術-強界電陶瓷及高儲能材料之食物應用
新世代穿透式電子顯微鏡試片製備技術-藍光光碟片之實務應用
電子顯微鏡介紹-TEM
2008 APMC9 看顯微鏡技術發展
"次奈米級"電子能量損失光譜分析技術之開發

雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)技術在材料檢測分析上之應用與發展

先進樣品製備技術與微結構分析技術在混成材料之應用
先進DBFIB/FETEM 之檢測技術應用在奈米材料、相變化記憶體與顯示器元件(上)
先進DBFIB/FETEM 之檢測技術應用在奈米材料、相變化記憶體與顯示器元件(下)

   DB-FIB
先進DB-FIB之檢測技術應用-PCM上
先進DB-FIB之檢測技術應用-PCM下
雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)技術在材料檢測分析上之應用與發展