檢測成果
   研發類、服務類
矽薄膜太陽電池FE-SEM微結構分析
HAADF STEM of PCM
Nano-composites 3D TEM
低溫高儲氫量鎂基複合儲氫材料分析
TFT-LCD配向膜於電極,邊緣上之厚度與成份分析
燃料電池 MEA 之SEM及EDS分析
奈米產品之尺度檢驗技術建立
介面能階分析在染料敏化太陽電池(DSSC)之應用

 

   產業應用
奈米產品之奈米尺度驗證技術
高密度儲存媒體定點結構與成分驗證技術
軟質材料TEM微結構分析技術
碳化結構與Raman檢測的應用
矽薄膜太陽電池微結構分析

 

   檢測技術應用
質譜分析應用
奈米纖維膜電性分析
探針工程應用
貴金屬材料化學分析
新世代的SPM技術-- peakforce
X光繞射-纖維結晶性分析檢測技術應用
次表面XPS化態分析- 非揮發性記憶體研究
低溫檢測平台技術
無銦薄膜太陽電池CuZnSnS4鑑定技術
利用EBSD分析技術進行產品之品質鑑定
奈米化妝品之奈米尺度驗證技術
高密度儲存光碟材料開發與樣品檢測協助
複合式掃描探針顯微平台技術
XRD 微結構分析檢測技術應用
新世代 Silicon Drift 能量分散式光譜分析儀(EDS) 奈米級表面微結構成份分析
奈米結構光學檢測技術開發 次十奈米散射式掃描近場光學顯微鏡 (s-SNOM)