半導體

薄膜
Filtering Energy-TEM analysis of microstructure and chemical distribution in core-shell nanoparticles
FETEM/EDS/EELS在High-k超薄膜上之檢測應用
Hard Coated膜層之微結構與成分分析

元件
銅製程元件之定點橫截面膜層微結構與成分分析
FETEM/DBFIB在PCM記憶體元件上之檢測應用
EELS mapping應用在定點半導體元件之膜層失效分析
DB-FIB三維分析

封裝
無鉛覆晶封裝(FCBGA)表面分析。