■ 表面與光學檢測
隨著科技的發展，材料與元件的尺寸縮小到奈米尺寸，進入新的奈米科技世代。在眾多的奈米科技技術發展中，奈米顯微術以及操控術一直受到廣泛的重視，該技術可從材料特性進而掌控原子、分子，或分子的排列結構，並創造出應用於人類生活中的新技術，如光學微影技術、奈米材料感測技術、微量藥物檢測、DNA檢測等。本次提供之表面與光學檢測專利組合開發新檢測技術，涵蓋運用在光學及表面檢測技術，伴隨奈米科技技術的進展，提供更好的光譜解析度、檢測準確度及擴大可檢測應用範圍。
專利組合技術特色
① 新開發的錐形光學針技術，藉由激發光源而在其尖端處產生奈米光源提高解析度及發光增益，或由尖端處接收光訊號提高量測解析度。
② 新穎檢測材料表面抗污能力的檢測裝置及方法，快速且準確測定材料表面之抗污能力。
③ 干涉儀及應用該干涉儀之顯微鏡，該干涉儀可用於多波長光源的顯微鏡，搭配不同波長的雷射光束進行檢測，滿足不同檢測樣品的檢測需求。
應用領域
生醫領域檢測技術、抗污能力測定、微機電系統技術、材料檢
測之探針、發光二極體元件上之光耦合結構
■ 材料化學晶片與高通量檢測
組合化學材料晶片(Combinatorial Material Chips)是一種在窄小區域內大量而密集地佈植相異組成樣品點的材料晶片，藉由分析比對各個樣品點之行為表現差異，可篩選出其所需的最佳組成配方，對於需要快速且大量地篩選多元成分之化學組成與配方的研發人員而言，組合化學材料晶片實為一功能強大的研發利器。本次之材料化學晶片與高通量檢測專利組合涵蓋所開發之組合材料晶片及探針檢測技術，除了組合化學材料晶片技術，另一
探針檢測技術可有效使探針之使用壽命延長與測試可靠度提高，有助於降低半導體封測產業的材料成本。
專利組合技術特色
① 可定義位置座標與混合物成分比例之三角形組合化學晶片及其製備方法，全面式、系統化地篩選混合物組成配方，易於鑑別，優於正方形或長方形的組合化學晶片。
② 製備材料晶片之裝置及方法，藉由特殊參數調控，調整材料晶片上之組成，有效控制材料晶片組成範圍。
③ 新開發之塗佈探針技術，除同時具備良好的耐磨性與導電性之外，還可降低錫球沾黏進而降低清針頻率，更減少針尖磨損，提高探針使用壽命，提高IC測試的準確度。
應用領域
IC測試、組合化學材料晶片、組成配方檢測
■ 電鏡技術
隨著近年來更為前瞻的材料創新，研究人員在電子顯微鏡上的分析需求更多樣且精進，本專利群組提供之電鏡技術涵蓋穿透式電子顯微鏡、聚焦式離子束顯微系統以及掃描式電子顯微鏡等三大技術，此三大技術不僅止於靜態樣品條件下的檢測，更開發新的輔具、載體或檢測方法，協助研發工作臨場檢測「看到」所開發之材料的形成、反應，或劣化的過程機制，再者更可以廣泛應用到分析樣品製備、積體電路重置及修補、奈米結構製作等領域。
專利組合技術特色
① 應用於研究光驅動反應之樣品承載裝置及使用該樣品承載裝置之樣品檢測方法，支援即時驅動光源組件抽換，兼具攜帶輕便性、高觀測可靠性、無需外接驅動/控制源，可降低風險並具有成本效益。
② 聚焦式離子束系統之物件加工方法及應用於該方法之載具，本專利可簡化操作，省去搬移加工完成之物件時需要另行調整共心高度的步驟，進而提升物件加工效率並降低風險性。
③ 新開發載具及其操作方法，該載具可帶動物件作全角度的轉動，有效提升顯微系統之三維取像分析或物件加工的效能。
應用領域
材料檢測、樣品分析、積體電路重置及修補、奈米結構製作
■ 電池極板與塗佈技術
精密塗佈技術可廣泛應用在儲能、電子、光電產業等各種技術領域上，除了單層塗佈外，更需要上下多層塗佈設備或方法技術，特別是電池極板塗佈技術，需要一（上）材料層完全覆蓋另一（下）材料層之上與側表面的多層塗佈結構。然而，目前技術面臨許多技術門檻，無法單面塗佈或邊緣留白控制，塗膜厚度也有控制不易等問題。本專利技術組合提供之塗佈技術可完全解決上述問題，更可依據產品需求設計塗佈極板結構，此組合涵蓋多種用途之多層膜結構及特殊電池電極結構及其塗佈技術，更衍生開發可提高電池效能及壽命之新電極結構專利。
專利組合技術特色
① 特殊塗佈模具用於精密塗佈技術，應用在電池的極板結構，製備防護層完全覆蓋電極活物層，提供電池操作上的保護作用，提高安全性。
② 特殊塗佈法製備電池極板，使其具有覆蓋活物層所有側與上表面之安全防護層，不影響後續焊接導電柄製程，可避免外力穿刺或高溫受熱造成短路起火燃燒，達到安全效果。
③ 新穎電極結構，具有能量活物層及功率活物層的鋰電池之電極結構，在高功率放電下，有較長之循環壽命。
應用領域
鋰離子電池、電容器極板等
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