PALS與EM檢測技術在奈米複合材料之應用

 

刊登日期:2011/1/5
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本文說明正電子湮滅壽命光譜技術搭配穿透式電子顯微鏡與穿透式電子斷層掃描顯像術,可相互驗證自由體積與微結構之間的關聯性。藉由這些檢測技術所得到之實驗結果,製程− 微結構−複材性能的新關係將可以被建立,並應用在軟性電子領域之高分子奈米複合材料研發中。


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