日本山形大學研究團隊利用大數據處理的一種「曲線圖解析」,開發出可解析新物質的晶體結構的手法。以企業與研究機構廣為使用的測定裝置的實驗數據為基礎,相較於過去,能以短時間及近100%的確率測出晶體結構。 粉末結晶材料的X光散射技術裝置的數據至今須耗費長時間進行解析,研究團隊使用數學理論開發出新軟體,解決特有的問題。過去的軟體須花費1小時左右,新軟體僅須5~10分左右,相較於過去,測出晶體結構的成功率為40~60%,新軟體高達80%,實質上接近100%。 資料來源: 日經產業新聞 / 材料世界網編譯 加入會員 分享 轉寄 聯絡我們 延伸閱讀 從紐西蘭地熱研討會看地熱鑽井技術現況(上) 實地觀測雲中水分,首次證明微塑膠存在 伊隆馬斯克和材料科技創新 東京工業大學開發出將糖導入共價有機骨架之固體蓄熱材料 集中式用過核子燃料中期貯存設施法規管制及貯存技術應用(下) 熱門閱讀 我國IC製造業大宗廢棄物資源化發展概況(上) 鑽石功率半導體材料,可望在電動車大放異彩 國際石化大廠在塑膠回收再利用之發展現況 全球化學產業減碳的發展方向與趨勢概論 我國IC製造業大宗廢棄物資源化發展概況(下) 相關廠商 金屬3D列印服務平台 大東樹脂化學股份有限公司 里華科技股份有限公司